第66回電池討論会
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14:20 〜 14:40
[1I13]
AST試験後の電解質膜状態観察に基づく劣化モードの分類と考察
*李 春艶
1
、金坂 浩行
1
、荻野 敏一
1
、日下部 弘樹
1
(1. 技術研究組合FC-Cubic)
キーワード:
電解質膜劣化、劣化モード、AST試験
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