講演情報

[1I13]AST試験後の電解質膜状態観察に基づく劣化モードの分類と考察

*李 春艶1、金坂 浩行1、荻野 敏一1、日下部 弘樹1 (1. 技術研究組合FC-Cubic)

キーワード:

電解質膜劣化、劣化モード、AST試験