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[2MH02]突入電流を考慮した内部短絡評価方法(CISC試験)

*Hideki Harada1, Toshinari Takata1, Ryota Shimogaki1, Yoshiki Hayashi1, Takayuki Tsubota1 (1. KOBELCO RESEARCH INSTITUTE, INC.)

Keywords:

内部短絡,積層構造,安全性評価試験