第66回電池討論会
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9:20 〜 9:40
[2MH02]
突入電流を考慮した内部短絡評価方法(CISC試験)
*原田 英樹
1
、髙田 俊成
1
、下垣 亮太
1
、林 良樹
1
、坪田 隆之
1
(1. 株式会社コベルコ科研)
キーワード:
内部短絡、積層構造、安全性評価試験
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