講演情報

[2MH02]突入電流を考慮した内部短絡評価方法(CISC試験)

*原田 英樹1、髙田 俊成1、下垣 亮太1、林 良樹1、坪田 隆之1 (1. 株式会社コベルコ科研)

キーワード:

内部短絡、積層構造、安全性評価試験