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[1D05]NanoESCAによるNCM正極のクラック周辺領域における局所電子状態解析
*Misato Ueda1, Kenjiro Hara1, Ren Sakamoto1, Kanenobu Akasaki1, Naohito Uchida2, Wenxiong Zhang2, Kazunao Ishiyama1, Sachio Takeda1, Yoshihisa Harada2 (1. TOYOTA BATTERY Co., Ltd. (Japan), 2. The Institute for Solid State Physics, The University of Tokyo (Japan))
Keywords:
NCM正極,電子状態,NanoESCA
