講演情報

10:40 〜 11:00

[1D05]NanoESCAによるNCM正極のクラック周辺領域における局所電子状態解析

*上田実怜¹、原健治朗¹、坂本廉¹、赤﨑兼宣¹、内田直仁²、張文雄²、石山知均¹、武田幸大¹、原田慈久² (1. トヨタバッテリー株式会社 (日本)、2. 東京大学物性研究所附属極限コヒーレント光科学研究センター (日本))

NCM正極、電子状態、NanoESCA