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[2F16]白色X線を用いた同視野オペランドXRD/CTによる全固体電池評価法の開発

*Tomotaka Nakatani1, Yoshimasa Urushihara1, Katsutoshi Sakurai2, Kyohei Izumi2, Fumiyuki Kobayashi2, Ushio Harada2, Kyohei Yamaguchi2 (1. Japan Synchrotron Radiation Reserch Insitute (Japan), 2. Honda R&D (Japan))

Keywords:

オペランド測定,XRD,CT