講演情報

16:00 〜 16:20

[2F16]白色X線を用いた同視野オペランドXRD/CTによる全固体電池評価法の開発

*仲谷友孝¹、漆原良昌¹、櫻井勝俊²、和泉享兵²、小林史幸²、原田潮²、山口恭平² (1. 公益財団法人　高輝度光科学研究センター (日本)、2. 株式会社　本田技術研究所 (日本))

オペランド測定、XRD、CT