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[S6.7]電子線分光法を用いたMgB4の電子構造の研究
*Sato Yohei1, Saito Taiki1, Tsuchiya Kohei1, Saito Hiroki2, Takeda Masatoshi2 (1. 東北大多元研、2. 長岡技科大)
Keywords:
電子エネルギー損失分光法,軟X線発光分光法,電子顕微鏡法,ボロン化合物
電子顕微鏡を用いた電子エネルギー損失分光法（EELS）と軟X線発光分光法(SXES)により、MgB4結晶構造のB6クラスター1次元鎖に特徴的な電子構造を明らかにする。