[S6] S6 ナノ･マイクロスペーステイラリングⅡ

11:30 〜 11:50

[S6.7] 電子線分光法を用いたMgB₄の電子構造の研究

*佐藤 庸平¹、齋藤 泰樹¹、土谷 公平¹、齋藤 広樹²、武田 雅敏² (1. 東北大多元研、2. 長岡技科大)

キーワード：

電子エネルギー損失分光法、軟X線発光分光法、電子顕微鏡法、ボロン化合物

電子顕微鏡を用いた電子エネルギー損失分光法（EELS）と軟X線発光分光法(SXES)により、MgB₄結晶構造のB₆クラスター1次元鎖に特徴的な電子構造を明らかにする。