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[171]Stress Measurement of Fe-Si-B Amorphous Alloy Ribbon by Micro-Raman Spectroscopy

*Ryutaro Yoshioka1, Tatsuya Fujii2, Tsunehisa Suzuki2, Makoto Yamaguchi3, Keisuke Takabayashi4 (1. Akita Pref. Univ., 2. Akita Pref. Univ., 3. Akita Univ., 4. Akita Univ.)

Keywords:

軟磁性材料,アモルファス,Fe-Si-B,ラマン分光,引張試験,残留応力

アモルファス合金薄帯を用いたモータコアの製造過程において応力が残留し,磁気特性を劣化させるという課題がある.本研究では,顕微ラマン分光法によりFe-Si-B系アモルファス合金薄帯の局所的な応力測定を行った.