講演情報
[171]顕微ラマン分光法によるFe-Si-B系アモルファス合金薄帯の応力測定
*吉岡 竜太郎1、藤井 達也2、鈴木 庸久2、山口 誠3、高林 圭佑4 (1. 秋田県立大（院生）、2. 秋田県立大、3. 秋田大、4. 秋田大（院生）)
キーワード：
軟磁性材料、アモルファス、Fe-Si-B、ラマン分光、引張試験、残留応力
アモルファス合金薄帯を用いたモータコアの製造過程において応力が残留し，磁気特性を劣化させるという課題がある．本研究では，顕微ラマン分光法によりFe-Si-B系アモルファス合金薄帯の局所的な応力測定を行った．