[S4] S4.New Materials Science on Nanoscale Structures and Functions at Crystal Interface(2)

1:30 PM - 2:10 PM JST(4:30 AM - 5:10 AM UTC)Keynote Lecture

[S4.19] [Keynote Lecture] Investigation of grain boundary segregation in oxide materials using advanced electron microscopy

*FENG Bin¹, Shibata Naoya^1,2, Ikuhara Yuichi^1,2,3 (1. The University of Tokyo, 2. JFCC, 3. Tohoku University)

Keywords:

先端電子顕微鏡法,粒界,粒界偏析

本発表では、先端電子顕微鏡法を用いた、アルミナおよびイットリア安定化ジルコニア（YSZ）セラミックスにおける粒界偏析現象に関する最新の解析結果について報告する。