[S4] S4.界面ナノ構造と機能の材料科学(2)

13:30 〜 14:10基調講演

[S4.19] [基調講演] 先端電子顕微鏡法による酸化物粒界偏析の研究

*FENG Bin¹、柴田 直哉^1,2、幾原 雄一^1,2,3 (1. 東京大学、2. ファインセラミックスセンター、3. 東北大学)

キーワード：

先端電子顕微鏡法、粒界、粒界偏析

本発表では、先端電子顕微鏡法を用いた、アルミナおよびイットリア安定化ジルコニア（YSZ）セラミックスにおける粒界偏析現象に関する最新の解析結果について報告する。