[S4] Tailoring of novel-structured materials using spatio-temporal responses under exotic reaction fields VII

1:55 PM - 2:10 PM JST(4:55 AM - 5:10 AM UTC)

[S4.11] The electron irradiation - electronic excitation induced phase transition in SiO_x/Ni/SiO_x TEM specimen

*Daichi YAMAGUCHI¹, Takeshi Nagase², Akira Heya², Koji Sumitomo², Shouzou Inoue², Michiru Yamashita³ (1. University of Hyogo, 2. University of Hyogo, 3. Hyogo Prefectural Institute of Technology)

Keywords:

TEM,シリサイド,電子励起,相転移,電子線照射

Metal/SiO_x界面において、電子励起を介してシリサイドが形成する電子励起誘起相転移現象が確認されている。そこで、SiO_x/Ni/SiO_x試料に対し、TEMを利用して電子線照射を行うことで新たな相の出現を確認した。