[P] P152~P165 Electric/Magnetic Materials

[P153] Phase transition behavior and microstructural analysis of one-dimensional Ti-Te thin films grown by sputtering

○Takuto Tezuka¹, Yi Shuang^2,3, Daisuke Ando¹, YuJi Sutou^1,3 (1. Tohoku Univ. (Eng.), 2. Tohoku Univ. (FRIS), 3. Tohoku Univ. (AIMR))

Keywords:

1D van der Waals,Low-dimensional materials,Semiconductor thin films,Ti–Te binary system,Cs-corrected STEM

次世代メモリとして期待される一次元ファンデルワールス材料のTiTe₅は、理論計算で予測されているが実測の報告が存在しない未踏相である。本研究ではスパッタ法を用いてその薄膜合成を試みた。微細構造を解析した結果、理論予測とは異なる直線的なTi配列を持つ単斜晶系の新相を発見したため詳細を報告する。