[G] High temperature process and melt property / Melting and solidification process

10:30 AM - 10:45 AM JST(1:30 AM - 1:45 AM UTC)

[6] Time-resolved measurement of crystal orientation distribution using X-ray tomography and diffractometry

○Tomoki Komatsu¹, Shion Matsumiya¹, Kazuaki Ikeda¹, Taka Narumi², Hideyuki Yasuda¹ (1. Kyoto Univ., 2. UTokyo)

Keywords:

solidification,X-ray diffractometry,crystal orientation

高温観察用4D-CT+XRD装置を用いて、SPring-8においてトモグラフィーとX線回折の同時測定を行った。それらを組み合わせた時間分解2DXRDの解析手法の開発について報告する。