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[2P-055]産学官公の技術課題解決への分析による新たなアプローチ:よろず相談「分析NEXT」の活動紹介

○吉原 大輔1、樋口 芙弥1、山本 竜広1、山田 淳1、川畑 明1 (1. (公財)九州先端科学技術研究所)

Keywords:

表面分析,技術相談,電子顕微鏡,産学官連携,課題解決,依頼分析