一般ポスター／テクノレビューー１

[2P-055] 産学官公の技術課題解決への分析による新たなアプローチ：よろず相談「分析NEXT」の活動紹介

○吉原 大輔¹、樋口 芙弥¹、山本 竜広¹、山田 淳¹、川畑 明¹ (1. (公財)九州先端科学技術研究所)

キーワード：

表面分析、技術相談、電子顕微鏡、産学官連携、課題解決、依頼分析