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[P2012]市販GC-MS装置のための分子イオン計測用アタッチメントの新展開:GC-IA(TOF)イオン源

○三島 有二1、斎藤 元明1、藤井 麻樹子2、津越 敬寿3 (1. (株)神戸工業試験場、2. 横国大院環境情報、3. 産総研)

Keywords:

イオン付着イオン化法,フラグメントレスイオン化法,網羅的検出法,質量分析