一般ポスター／テクノレビューポスター

[P2012] 市販GC-MS装置のための分子イオン計測用アタッチメントの新展開：GC-IA(TOF)イオン源

○三島 有二¹、斎藤 元明¹、藤井 麻樹子²、津越 敬寿³ (1. (株)神戸工業試験場、2. 横国大院環境情報、3. 産総研)

キーワード：

イオン付着イオン化法、フラグメントレスイオン化法、網羅的検出法、質量分析