[19p-A202-1~7] 8.3 Plasma nanotechnology

1:30 PM - 1:45 PM JST(4:30 AM - 4:45 AM UTC)

[19p-A202-3] Measurement of strengths and fluctuations of electric fields in Ar plasma using a fine particle trapped by optical tweezers (4)

〇KUNIHIRO KAMATAKI¹, Toma Sato¹, Kosei Iguchi¹, Kentaro Tomita², Yiming Pan³, Daisuke Yamashita¹, Naoto Yamashita¹, Takamasa Okumura¹, Naho Itagaki¹, Kazunori Koga¹, Masaharu Shiratani¹ (1.Kyushu Univ. ISEE., 2.Hokkaido Univ., 3.Kyushu Univ. IGSES.)

Keywords:

fine particle,charge,electric field measurement

本研究では, 光ピンセット法により補足されたプラズマ中の微粒子をプローブとして, マイクロメートルオーダーの高い空間分解能を持つ電場強度及びその揺動成分の計測開発を行なっている．そこで, 本研究では電場計測精度の向上のために２個の大気中微粒子をプラズマ中に浮遊させ, 光ピンセット法の技術と組み合わせることで, 新たな微粒子の帯電量の導出方法を提案する.