Presentation Information
[20a-C601-5]Evaluation of pn junction in the solar cells using ZnSnP2 by biased photoreflectance
〇Isshin Sumiyoshi1, Yoshitaro Nose1 (1.Kyoto Univ.)
Keywords:
photoreflectance,surface electric field,Franz-Kelsysh Oscillation
太陽電池は積層構造であり，各界面における波動関数やフェルミエネルギーの連続性を考慮すると太陽電池デバイスの状態で各界面を非破壊評価することが重要である．本研究では，フォトリフレクタンス法において適切な励起光を用いることで，太陽電池中のp型光吸収層内にかかる電場を選択的に評価した．この時，バイアス電圧を印加することでpn界面のエネルギーを変化させ，欠陥準位や界面準位についての知見を得た．