[20p-D903-1~16] 12.2 Characterization and Materials Physics

2:45 PM - 3:00 PM JST(5:45 AM - 6:00 AM UTC)Presentation by Applicant for JSAP Young Scientists Presentation Award

[20p-D903-5] Effect of LiF insertion layer on energy level alignment at the interface of metal and electron transport layer BCP

〇Takaya Aoki¹, Hiroyuki Yoshida^2,3 (1.Chiba Univ., 2.Chiba Univ., 3.Chiba Univ.)

Keywords:

organic electro-luminescence,electron injection,low-energy inverse photoemission spectroscopy

金属・有機界面電子準位接続は、デバイスでの電荷注入・収集効率を決定する。有機EL素子では、電子輸送層と金属電極の間に電子注入層LiFを挿入すると、電子注入効率が改善され、駆動電圧が下がる。本研究では代表的な電子輸送層BCPと陰極Agについて、LiFの挿入効果を、紫外光電子分光法(UPS)と低エネルギー逆光電子分光法(LEIPS)により直接観測した。観測結果から有機層BCPへのAgやLiFの拡散を取り込んだ埋もれた界面の電子準位を予測した。