[17a-B3-1~8] 6.1 Ferroelectric thin films

9:30 AM - 9:45 AM JST(12:30 AM - 12:45 AM UTC)

[17a-B3-1] Local structure analysis around Sm atoms in Sm-doped BiFeO₃ thin films

〇Marika Kawakami¹, Seiji Nakashima¹, Koji Kimura², Naohisa Happo³, Ai Osaka¹, Hironori Fujisawa¹, Koichi Hayashi² (1.Univ. of Hyogo, 2.NI Tech., 3.Hiroshima City Univ.)

Keywords:

X-ray Fluorescence Holography,BiFeO3,ferroelectric

ビスマスフェライト(BiFeO₃：BFO)にSmをドープすると結晶構造が変化し、ドープ量14 at%付近では菱面体晶と直方晶が混在し(相境界)、極めて高い圧電性を示す。本研究では、特定の元素周辺の構造を可視化できる蛍光X線ホログラフィー(XFH : X-ray Fluorescence Holography)を用いて、三次元的な観察を行い、BFO結晶相境界におけるより詳細な結晶構造変化の解明を目指した。