[17a-B3-1~8] 6.1 強誘電体薄膜

9:30 〜 9:45

[17a-B3-1] SmドープBiFeO₃薄膜におけるSm原子近傍の局所構造解析

〇川上 真梨花¹、中嶋 誠二¹、木村 耕治²、八方 直久³、大坂 藍¹、藤沢 浩訓¹、林 好一² (1.兵庫県大工、2.名工大工、3.広島市大情報)

キーワード：

蛍光Ｘ線ホログラフィー、ビスマスフェライト、強誘電体

ビスマスフェライト(BiFeO₃：BFO)にSmをドープすると結晶構造が変化し、ドープ量14 at%付近では菱面体晶と直方晶が混在し(相境界)、極めて高い圧電性を示す。本研究では、特定の元素周辺の構造を可視化できる蛍光X線ホログラフィー(XFH : X-ray Fluorescence Holography)を用いて、三次元的な観察を行い、BFO結晶相境界におけるより詳細な結晶構造変化の解明を目指した。