[17a-B4-1~9] 6.6 Probe Microscopy

9:30 AM - 9:45 AM JST(12:30 AM - 12:45 AM UTC)Presentation by Applicant for JSAP Young Scientists Presentation Award

[17a-B4-3] Development of High-Precision Fluid Slip Measurement Using AFM

〇Haruya Ishida¹, Hideaki Teshima¹, Qin-Yi Li¹, Koji Takahashi¹ (1.Kyushu Univ.)

Keywords:

atomic force microscopy,fluid slip

マイクロ、ナノスケール流体デバイスの性能向上には「流体がよくすべる表面」の実現が望まれるが、実験の精度が低く、流体のすべりの原理はほとんど解明されていない。本研究では、AFMを用いたすべり計測における既存の解析手法の誤差を指摘し、新しい解析手法「二変数法」を提案する。新手法は既存手法と比較して誤差を1桁減らすことに成功した。