[18a-A32-1~10] KS.2 Quantum Information Engineering Group

9:30 AM - 9:45 AM JST(12:30 AM - 12:45 AM UTC)

[18a-A32-2] [The 56th Young Scientist Presentation Award Speech] Radio-Frequency Reflectometry on Bipolar Silicon Quantum Dots

〇Shunsuke Ota¹, Chihiro Kondo¹, Ryuta Tsuchiya², Toshiyuki Mine², Digh Hisamoto², Hiroyuki Mizuno², Raisei Mizokuchi¹, Jun Yoneda¹, Tetsuo Kodera¹ (1.Tokyo Tech., 2.R&D Group, Hitachi Ltd.)

Keywords:

silicon quantum dot,RF reflectometry

シリコンスピン量子ビットは量子コンピュータ実現に有望な候補とされている。その中で、電子スピンは長いコヒーレンス時間、正孔スピンは電場駆動による高速スピン操作が利点であり、どちらも注目を集めている。本研究ではこれらのベンチマークを目的として、n 型(電子)と p 型(正孔)の特性を同一チャネル上で切り替え可能な構造を有するバイポーラ型シリコン量子ドットの高周波反射測定を行った。