講演情報
[18a-A32-2][第56回講演奨励賞受賞記念講演] バイポーラ型シリコン量子ドットの高周波反射測定
〇太田 俊輔1、近藤 知宏1、土屋 龍太2、峰 利之2、久本 大2、水野 弘之2、溝口 来成1、米田 淳1、小寺 哲夫1 (1.東工大、2.日立研開)
キーワード:
シリコン量子ドット、高周波反射測定
シリコンスピン量子ビットは量子コンピュータ実現に有望な候補とされている。その中で、電子スピンは長いコヒーレンス時間、正孔スピンは電場駆動による高速スピン操作が利点であり、どちらも注目を集めている。本研究ではこれらのベンチマークを目的として、n 型(電子)と p 型(正孔)の特性を同一チャネル上で切り替え可能な構造を有するバイポーラ型シリコン量子ドットの高周波反射測定を行った。
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