[18p-P04-1~15] 12.2 Characterization and Materials Physics

[18p-P04-9] Characterization of Organic Semiconductor Thin Films by Tender XAFS Measurements (Ⅱ)

〇Hiroyuki Setoyama¹, Takeshi Watanabe², Yuga Takeuchi³, Keita Ebisu³, Satomi Fujisaki³, Noriyuki Yoshimoto³, Ichiro Hirosawa¹ (1.SAGA-LS, 2.JASRI, 3.Iwate Univ.)

Keywords:

Tender XAFS,OTFT,DNTT

有機半導体材料のOTFT特性に大きな影響を与える分子配向を評価するため、我々は大気圧He雰囲気下で測定可能なTender XAFS装置をSAGA-LSに整備した。本装置を用いてDNTTおよびPh-BTBT-10 OTFTのS_K端Tender XAFS測定を行った結果、各スペクトルのピーク強度に明瞭な角度依存性が確認され、本装置がイオウ含有OTFT材料の分子配向評価に有用であることを確認した。