[18p-P04-1~15] 12.2 評価・基礎物性

[18p-P04-9] Tender XAFS測定による有機半導体薄膜評価(Ⅱ)

〇瀬戸山 寛之¹、渡辺 剛²、竹内 雄賀³、胡 啓太³、藤崎 聡美³、吉本 則之³、廣沢 一郎¹ (1.九州シンクロ、2.JASRI、3.岩手大理工)

キーワード：

Tender XAFS、有機TFT、DNTT

有機半導体材料のOTFT特性に大きな影響を与える分子配向を評価するため、我々は大気圧He雰囲気下で測定可能なTender XAFS装置をSAGA-LSに整備した。本装置を用いてDNTTおよびPh-BTBT-10 OTFTのS_K端Tender XAFS測定を行った結果、各スペクトルのピーク強度に明瞭な角度依存性が確認され、本装置がイオウ含有OTFT材料の分子配向評価に有用であることを確認した。