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[19p-A25-11]Development of ultrafast local electric field measurement system with diamond NV tip

〇(M2)Daisuke Sato1, Junjie Guo1, Takuto Ichikawa1,2, Dwi Prananto3, Toshu An3, Paul Fons4, Shoji Yoshida1, Hidemi Shigekawa1, Muneaki Hase1 (1.Univ. of Tsukuba, 2.AIST, 3.JAIST, 4.Keio Univ.)

Keywords:

NV centers,Ultrafast spectroscopy,Scanning probe microscope

近年、NVセンターはナノメートル分解能の量子センサーとして注目を集めているが、従来の検出法における時間分解能はミリ秒程度であり、高い時間分解能での検出は困難である。そこで本研究では、ポンプ・プローブ分光法とNVセンターを探針とした自己検出型AFMを組み合わせることによって、ナノメートル-フェムト秒の電場計測システムの開発を行い、層状半導体WSe2におけるキャリアダイナミクスを観測した。

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