[20a-D62-1~11] 2.2 Radiation physics fundamentals & applications, radiation generators, new technology

9:00 AM - 9:15 AM JST(12:00 AM - 12:15 AM UTC)Presentation by Applicant for JSAP Young Scientists Presentation Award

[20a-D62-1] 【Absent】Post-irradiation analysis of a nucleotide by using TOF-SIMS

〇Tetsuro Ohta^1,2, Chizuru Asahara², Hidetsugu Tsuchida¹ (1.Kyoto Univ., 2.TRC)

Keywords:

Radiation damage,biomolecule

粒子線がん治療において、高速イオンビームが生体分子にどのような損傷を与えるかを理解することは極めて重要である。ヌクレオチドはDNAの単位構造であり、リン酸、糖、塩基の機能に分けた損傷の解析が望まれる。イオンビーム照射実験と有機材料の表面分析によく用いられるTOF-SIMS法を組み合わせることで、イオンビーム照射後の生体分子損傷を解明するための新しいアプローチを実施した。