[20a-D62-1~11] 2.2 放射線物理一般・放射線応用・発生装置・新技術

9:00 〜 9:15奨励賞エントリー

[20a-D62-1] 【講演欠席】TOF-SIMSを用いたヌクレオチドの照射後解析

〇大田 哲郎^1,2、浅原 千鶴²、土田 秀次¹ (1.京大院工、2.東レリサーチセンター)

キーワード：

放射線損傷、生体分子

粒子線がん治療において、高速イオンビームが生体分子にどのような損傷を与えるかを理解することは極めて重要である。ヌクレオチドはDNAの単位構造であり、リン酸、糖、塩基の機能に分けた損傷の解析が望まれる。イオンビーム照射実験と有機材料の表面分析によく用いられるTOF-SIMS法を組み合わせることで、イオンビーム照射後の生体分子損傷を解明するための新しいアプローチを実施した。