Presentation Information
[22p-P08-1]Cross-plane thermoelectric figure of merit in single walled carbon nanotube thin films
〇(M2)Shigeki Saito1, Yoshihiko Kaneko1, Ueji Kan1, Yohei Yomogida1, Takashi Yagi2, Kazuhiro Yanagi1 (1.Tokyo Metro. Univ., 2.AIST)
Keywords:
van der Waals interface,thermoelectric figure of merit,single walled carbon nanotubes
ナノ材料系では、界面の構造制御によって熱電性能が変化する。面直方向の熱電性能評価として、熱伝導率はTDTR法によって計測できるが、ゼーベック計測法は未だ確立されておらず、それゆえナノ材料系の界面における熱的・電気的な相互理解は未だ不完全である。本研究では、ナノ材料である単層カーボンナノチューブ薄膜の面直方向のゼーベック係数を熱電対法と2ω法の二種類を用いて計測し、面直方向の熱電性能評価を行った。