Presentation Information
[23a-1BL-7]Practical Length Metrology Using Blue Laser Diode
〇Hirokazu Matsumoto1 (1.Optical Metrology Office)
Keywords:
semiconductor laser,optical metrology
低コストな実用光学計測機器の実現のため,青色半導体レーザーに関して,
干渉性,スペクトル性,安定性等を実験的・理論的に評価する.
干渉性,スペクトル性,安定性等を実験的・理論的に評価する.