Presentation Information
[23a-P08-2]Development of fast measurement system of anomalous total X-ray scattering
〇Tomoya Uruga1, Takuma Kaneko1 (1.JASRI)
Keywords:
anomalous total X-ray scattering,X-ray,Synchrotron radiation
異常分散X線全散乱計測法は、複数元素種から構成される結晶性試料・非晶質試料に対し、試料内の各元素種のサイト特定を高い確度で行うことを目的とする計測手法である。本研究では、SPring-8ビームラインBL36XUにおいて、4軸回折計に2次元X線ピクセル検出器を搭載し、広エネルギー領域で迅速な異常分散X線全散乱計測が可能なシステムを構築した。計測システムの概要と計測事例について報告を行う。