[23p-22B-1~13] FS.1 Focused Session "AI Electronics"

3:30 PM - 3:45 PM JST(6:30 AM - 6:45 AM UTC)

[23p-22B-9] Real-time Optimization of Experimental Parameters Using an FPGA-Implemented Ising Machine and Fabrication of Au Atom Junctions

〇Koki Awaya¹, Moe Shimada¹, Ryoya Yonemoto¹, Jun-ich Shirakashi¹ (1.Tokyo Univ. Agr. & Tech.)

Keywords:

Field Programmable Gate Array,Feedback-Controlled Electromigration,Conbinatorial Optimization

これまで我々は、原子接合の作製手法として知られているFCE法に対して、イジングマシンを用いた実験パラメータの最適化によるAu原子接合の自動作製を検討してきた。今回は、イジングマシンによるFCE実験パラメータ決定システムをFPGAに実装することで、実験状況に応じて複数の実験パラメータをリアルタイムに最適化しながらFCEへ適用することのできる、自律的なAu原子接合作製システムを構築した。