Presentation Information
[23p-P05-60]Development of a new potential measurement method for improving spatial resolution in electrical impedance tomography
〇Reiji Kaneko1, Keiya Minakawa1, Takashi Ikuno1 (1.Tokyo Univ. of Sci.)
Keywords:
electrical impedance tomography,measurement method,resolution
電気インピーダンストモグラフィ（Electrical Impedance Tomography: EIT）法は，試料表面の電流－電圧特性から試料内部の導電率分布を可視化する技術である．従来の測定手法であるAdjacent法では，隣接電極間に電流を注入したときの隣接する電極間の電位差を測定する．しかし，Adjacent法は測定対象物の異物が中心部に存在するとき検出精度が低いことが課題である．そこで，本研究では， Adjacent法よりも試料中心部の異物の検出精度が高い新規測定プロセス(Mono法)を考案した．