[24p-31A-1~14] FS.1 Focused Session "AI Electronics"

2:30 PM - 2:45 PM JST(5:30 AM - 5:45 AM UTC)Presentation by Applicant for JSAP Young Scientists Presentation Award

[24p-31A-6] Classification Method of ReRAM Current Fluctuation by CNN and Physical Model of Fluctuation

〇Ayumu Yamada¹, Naoko Misawa¹, Chihiro Matsui¹, Ken Takeuchi¹ (1.Univ. Tokyo)

Keywords:

ReRAM,current fluctuation,physical model

本研究では、抵抗変化型メモリ（ReRAM）のゆらぎ現象の解析のため、畳み込みニューラルネットワーク（CNN）を用いたゆらぎパターン分類器（Fluctuation Pattern Classifier, FPC）を提案し、これを用いて測定電流データの分類・解析を行った。また、解析結果に基づきTaO_X ReRAMにおけるゆらぎの物理モデルを考察した。