Presentation Information
[25p-12M-11]PHITS simulations of scattered high energy X-ray spectrum
from HIPed F82H interface
〇Ryo Fujiyama1, Kazushi Hoshi1, Kosuke Suzuki1, Hiroshi Sakurai1 (1.Gunma Univ.)
Keywords:
PHITS
核融合原型炉のブランケット第一壁はF82H鋼を用いたHIP接合による作製が検討されている。一方、HIP界面(接合部分)にはSiOxなどの酸化物が析出し強度に影響を与えることが報告されている。そのため、適切な非破壊検査技術が必要である。我々は高エネルギーX線を用いたコンプトン散乱X線のエネルギースペクトルの解析によって、その析出量を評価できることを報告した。本研究では、さらにPHITSによるシミュレーションを行い、SiOxの析出量の検出限界を評価した。