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[10a-N404-2]Gaussian Process Regression analysis for critical current density in YBa2Cu3Oy+BaHfO3/YBa2Cu3Oy multilayer

〇Shunta Ito1, Ataru Ichinose2, Tomoya Horide1, Yutaka Yoshida1 (1.Nagoya Univ., 2.CRIEPI)

Keywords:

superconductor,critical current density

複雑な微細構造を持つ薄膜は制御すべきパラメータが多く、パラメータと特性間の傾向の分析や最適化が困難である。本研究では、BHO添加YBCO/YBCOの多層膜に焦点を当て、薄膜の複雑な構造とJc間の傾向についてガウス過程回帰を用いた特性の解析を試みた。その結果、構造を決定するパラメータとJc間の傾向に関して、回帰モデルを構築することで少ないデータ数で傾向を表現することが可能であった。