[8p-N306-1~20] 12.2 Characterization and Materials Physics

5:15 PM - 5:30 PM JST(8:15 AM - 8:30 AM UTC)

[8p-N306-14] Elucidation of the structure evolution in porphyrin single-molecule junction based on simultaneous measurement of SERS and electric transport properties

〇(D)Kanji Homma¹, Satoshi Kaneko², Kazuhito Tsukagoshi³, Tomoaki Nishino¹ (1.Science, Science Tokyo, 2.Materials and Chemical Technology, Science Tokyo, 3.NIMS MANA)

Keywords:

Single molecule junction,Surface Enhanced Raman Scattering,Porphyrin

ポルフィリンは分子素子の構成要素として期待されている。計測により複数の電気伝導度が報告されているが対応した接続構造が不明という課題がある。本研究では単分子接合の電流–電圧(I–V)特性と表面増強ラマン散乱の同時計測により構造解明を行った。I–V特性から単分子接合の構造不安定性による電気伝導度変化を観測した。各々の電気伝導度に対応するSERSスペクトルの変化からポルフィリン分子接合の接続構造が変化していることが示唆された。