Presentation Information
[9p-P03-3]Improvement of scan-less SD-OCT by applying multi-wavelength back-propagation method
〇Akito Sato1, Samuel Choi1 (1.Niigata Univ.)
Keywords:
interferometry,polarimetry
本研究では、B-scanを同時に計測するスキャンレスSD-OCT装置に多波長逆伝搬法を適用して、ミラー像とバイアス成分を抑制し、リサンプリング処理が不要な断層計測を実現した。先行研究で構築した光学系を調整し、断層画像の信号対雑音比を最大12 dBまで向上させた。今後は、フーリエ領域での広視野ヘテロダイン検波法の導入により、高速に振動する断層物体の断層構造と振動分布両方の同時計測・可視化を目指す。