[10a-B32-1~11] 12.2 Characterization and Materials Physics

10:45 AM - 11:00 AM JST(1:45 AM - 2:00 AM UTC)

[10a-B32-7] bservation of Dopant Distribution in PBTTT Thin Films Doped with a Ni-Complex

〇(M2)Ayuto Kouta^1,2, Takahiro Kaneta^1,2, Shunichiro Ito¹, Daishi Inoue¹, Daisuke Hashizume¹, Jun Takeya², Shun Watanabe¹ (1.RIKEN CEMS, 2.Univ. of Tokyo)

Keywords:

conductive polymer,electron microscope

高分子半導体PBTTTにNi(mnt)_₂^⁻のアニオン交換ドーピングを施し、NiのBSE-SEMコントラストを活用してサブマイクロスケールのドーパント空間分布を可視化する手法を検討した。当日はドーピング前後の高分子半導体中の実像観察について議論を行う予定である。