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[10a-E215-2]Epitaxial growth of Weyl semimetal B20-type CoGe thin films/Si and their thermoelectric properties

〇Asumi Michibata1, Tsukasa Terada1, Takafumi Ishibe1, Yuichiro Yamashita2, Nobuyasu Naruse3, Katsuhiro Suzuki4 (1.Univ. Osaka, 2.AIST, 3.Shiga Univ. Med. Sci., 4.NIT Niihama College)

Keywords:

Weyl semimetal,thermoelectric material,thin film

ワイル半金属B20型CoGeは、その特異な電子構造から熱電材料として期待されている。一方、常圧下ではCoとGeの原子半径比が安定条件を満たさず、応用上重要なSi基板上への薄膜形成は困難である。本研究では、実質的な原子半径比を制御したB20型CoSiGeを成長核として導入することで、B20型CoGe薄膜のSi基板上エピタキシャル成長を実現し、その熱電特性を評価する。