講演情報
[10a-E215-2]ワイル半金属B20型CoGe薄膜のSi基板上エピタキシャル成長とその熱電特性
〇道端 亜澄1、寺田 吏1、石部 貴史1、山下 雄一郎2、成瀬 延康3、鈴木 雄大4 (1.阪大院基礎工、2.産総研、3.滋賀医科大、4.新居浜高専)
キーワード:
ワイル半金属、熱電材料、薄膜
ワイル半金属B20型CoGeは、その特異な電子構造から熱電材料として期待されている。一方、常圧下ではCoとGeの原子半径比が安定条件を満たさず、応用上重要なSi基板上への薄膜形成は困難である。本研究では、実質的な原子半径比を制御したB20型CoSiGeを成長核として導入することで、B20型CoGe薄膜のSi基板上エピタキシャル成長を実現し、その熱電特性を評価する。
