Presentation Information
[8p-PB1-7]Evaluation Method for Charge and Debye Screening Length of Microparticles Levitated in Plasma Sheath Using Optical Tweezers
〇Takuro Sugita1, Minghao Lou1, Daisuke Yamashita1, Takamasa Okumura1, Naho Itagaki1, Kazunori Koga1, Masaharu Shiratani1, Kunihiro Kamataki1 (1.Kyushu Univ. ISEE)
Keywords:
Optical Tweezers,Microparticle,Plasma Sheath
本研究では，光ピンセットで捕捉したプラズマシース中微粒子をプローブとして用い，背景電場による力と2粒子間相互作用を測定することで，微粒子帯電量及びデバイ遮蔽長を評価する手法を開発した．13.56MHzと50MHz放電を比較し，周波数による遮蔽項かの違いを実験的に示した．