Presentation Information
[9a-C310-2]Strain Introduction into LiH Epitaxial Thin Films
〇Kenta Saito1, Erika Fukushi1, Kosei Onishi1, Takuya Majima2, Takayuki Harada3, Hiroyuki Oguchi1 (1.Shibaura Univ., 2.Kyouto Univ., 3.NIMS)
Keywords:
matal hydride,thin film
本研究では、LiHエピタキシャル薄膜における結晶歪み制御を目的とし、膜厚制御を通じて基板由来のエピタキシャル拘束効果を評価した。MgO(100)基板上に25–100 nmのLiH薄膜を合成し、XRD解析を行った結果、膜厚減少に伴い回折ピークが高角側へシフトし、面直方向格子定数の減少が確認された。逆格子マッピングから、薄膜化により基板拘束が強まり歪みが導入されることが示された。
