[17p-W9_323-1~10] CS.7 Code-sharing Session of 6.5 & 7.5

1:45 PM - 2:00 PM JST(4:45 AM - 5:00 AM UTC)

[17p-W9_323-2] Thermally Induced Charge Compensation in Photoelectron Spectroscopy of Insulators

Daisuke Fujiki¹, Hirosuke Sumida², 〇Satoru Suzuki¹ (1.Univ. of Hyogo, 2.Mazda Motor Corp.)

Keywords:

insulator,charge compensation,HAXPES

絶縁体試料の帯電は、光電子分光測定においてしばしば問題になる。半導体や絶縁体の電気抵抗が温度によって減少することは良く知られているが、光電子分光測定下における温度と帯電量の関係について、系統的な研究は殆ど行われていないようである。今回我々は、非常に絶縁性の高い物質でも、比較的穏やかな温度で帯電が解消することを明らかにした。また電気抵抗の活性化エネルギーや、帯電補償の経路についても考察を行った。