[J224] マイクロ・ナノ機械デバイスとその信頼性 (1) | 金沢テスト学会

Session Details

一般口頭セッション(部門横断企画) : J224 マイクロ・ナノ機械デバイスとその信頼性

Mon. Sep 9, 2024 9:00 AM - 10:30 AM JST
Mon. Sep 9, 2024 12:00 AM - 1:30 AM UTC

第11室(共通講義棟A A41)

座長:三宅修吾(摂南大学)

9:00 AM - 9:15 AM JST(12:00 AM - 12:15 AM UTC)

〇中島遼¹、中西拓登¹、羅丞曜⁴、李ひよん²、水野洋輔³、山根大輔¹ (1. 立命館大学、2. 芝浦工業大学、3. 横浜国立大学、4. 国立清華大学)

9:15 AM - 9:30 AM JST(12:15 AM - 12:30 AM UTC)

〇黒沢憲吾¹、大口健一²、福地孝平²、瀧田敦子¹ (1. 秋田県産業技術センター、2. 秋田大学)

9:30 AM - 9:45 AM JST(12:30 AM - 12:45 AM UTC)

〇伊佐野雄司¹、鷹屋舞香¹、黒瀧悠太^1,2、松田涼佑¹、三宅悠介²、高野珠実¹、磯田豊¹、濱上知樹¹、栗林健太郎²、太田裕貴¹ (1. 横浜国立大学、2. GMOペパボ株式会社　ペパボ研究所)

9:45 AM - 10:00 AM JST(12:45 AM - 1:00 AM UTC)

〇島康介¹、竹村拓樹¹、バネルジーアミット¹、廣谷潤¹、土屋智由¹ (1. 京都大学工学研究科マイクロエンジニアリング専攻)

10:00 AM - 10:15 AM JST(1:00 AM - 1:15 AM UTC)

〇山藤靖一朗¹、大槻哲也¹ (1. 株式会社べテル)

10:15 AM - 10:30 AM JST(1:15 AM - 1:30 AM UTC)

〇矢野健¹、蛭間敬¹ (1. セイコーエプソン株式会社)